272 - 高加速透過型電子顕微鏡

日本電子 JEM-2100

  • 予約状況

    予約できません。 × 空きなし。 
    空きがあります。  ほぼ空いています。 

    画像

    設置場所

    住所: 〒560-0043 大阪府豊中市待兼山町1-2
    建屋・棟: 文理融合型研究棟(豊中)
    フロア: 2F 204顕微鏡室
  • 利用料金

    依頼分析
    測定・解析 ◆時間料金/時間+ ◆基本料金/試料
    4,583 円(1時間あたり)
    2,037 円(1試料あたり)
    消耗品を用意する必要がある場合は、別途実費を要する。※依頼分析は内容により、お受けできない場合があります。

    詳細

    概要・性能: LaB6フィラメントを用いている為、電子銃が長期間(数年単位)安定して使用可能。
    高い空間分解能による結晶格子観察。
    CCDカメラによる短時間でのデータ取得および動画撮影。
    SEM-EDSとの連動で同一サンプリングロットのサンプルの内部情報、元素組成など
    を取得可能。
    透過像での観察の他、電子線回折像による結晶構造解析が可能。

    The system uses a LaB6 filament allowing long-term stable use of the electron
    gun (having a long lifetime).
    Enables crystal lattice observation at high spatial resolution.
    Data can be captured and video footage can be taken in a short time using a
    CCD camera.
    In linkage with an SEM-EDS, it is possible to acquire internal information,
    element composition and other data for samples in the same sampling lot.
    仕様: 分解能:粒子像0.23nm、格子像0.14nm
    観察可能倍率:x50 ~ x 1.5M
    加速電圧:50kV ~ 200kV

    Resolution: Particle image 0.23 nm, Lattice image 0.14 nm
    Magnification range: x50 - x1.5M
    Acceleration voltage: 50-200 kV



    ※本装置利用による成果物(論文等)を出される場合は、下記の謝辞記載例を参考に謝辞記載をお願いします。

    When the data obtained by this instrument to submit to an official publications (e.g. journal etc.) , please write an acknowledgement it refer to following examples.
    資料: 謝辞記載例.pdf
    注意事項: ・利用予定の1週間前までに担当者まで連絡をすること。
    ・装置利用講習を受講の上、使用すること。
    ・前処理等のサンプリングは事前に済ませておくこと。
    ※その他、分析室で用意した消耗品を使用した場合は応分負担。
    ・contact the staff 1 week earlier before the day of the use.
    ・take a training before the use.
    ・User should complete sampling like praparation beforehand.
    ※For other supplies provided in the analysis laboratories, users should pay according to the amount used

    基本情報

    機器番号: 272
    機器状態: 利用可能
    カテゴリー: 07.電子顕微鏡、07.電子顕微鏡/TEM
    機器担当者: 伊藤 彰厚、平山 里実、戸所 泰人
    機器部局: 理学研究科

PageTop