372 - 卓上粉末X線回折装置

リガク　MiniFlex600

  • 予約状況

    ■ 予約できません。 × 空きなし。 
    △ 空きがあります。  ○ ほぼ空いています。 

    画像

    設置場所

    住所： 〒560-0043 大阪府豊中市待兼山町1-1
    建屋・棟： 理学研究科　C棟
    フロア： ３F　ｃ328

  • 利用料金

    自主分析
    自主分析時間数：利用実績から決定する
    3,740 円（1時間あたり）
    ガラス試料板（破損させた場合）  1,800 円 （1枚あたり）
    依頼分析
    時間料金＋サンプル料金
    5,940 円（1時間あたり）
    2,200 円（1試料あたり）

    詳細

    概要・性能：
    粉末のＸ線回折測定ができます。半導体検出器を搭載しており短時間で測定が可能です。 

    解析ソフト：PDXL2 

    線源：Cu 

    検出器：半導体１次元検出器D/tex Ultra 

    出力：600 W 

    ゴニオメーター半径：150 mm 2θ

    走査範囲：-3°～+145° 2θ

    測定範囲：＋２°～+145° θ/2θ

    軸最小ステップ角度：0.005°(2θ) 

    早送り速度：500°/min(2θ) 

    走査速度：0.01-100°/分 

    データム角度：2θ=10° 

    スリット DS：1.25、0.625 IHS 10 mm SS 1.25° RS 0.3 mm 

    入射ソーラースリット：soller(inc)2.5° 

    受光ソーラースリット：soller(rec)2.5°


    This is a powder X-ray diffraction instruments. Equipped with a semiconductor detector, measurement is possible in a short time.

    Software: PDXL2 

    X-ray source: Cu 

    Detector: D/tex Ultra 

    Power: 600 W 

    Goniometer radius: 150 mm 2θ 

    scanning range: -3°～ +145° 2θ 

    measurement range: +2°～+145° θ/2θ 

    minimum step angle: 0.005°(2θ) 

    Fast forward speed: 500°/min(2θ) 

    Scanning speed: 0.01-100°/min 

    Datum angle: 2θ=10°

    Slit Ds: 1.25 0.625 IHS: 10 mm SS: 1.25° RS: 0.3mm 

    Incident soller slit: 2.5° 

    Receiving soller slit: 2.5°


    ※本装置利用による成果物（論文等）を出される場合は、下記の謝辞記載例を参考に謝辞記載をお願いします。

    When the data obtained by this instrument to submit to an official publications (e.g. journal etc.) , please write an acknowledgement it refer to following examples.

    資料： 謝辞記載例.pdf
    注意事項： 初回利用時は予約前に担当者と日程調整をして下さい。

    基本情報

    機器番号： 372
    機器状態： 利用可能
    カテゴリー： 05.電子・X線回析
    機器担当者： 飯島　憲一、川村　和司、平山　里実
    機器部局： 理学研究科

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