研究設備・機器共通予約システム

粉末のＸ線回折測定ができます。半導体検出器を搭載しており短時間で測定が可能です。 解析ソフト：PDXL2 線源：Cu 検出器：半導体１次元検出器D/tex Ultra 出力：600 W ゴニオメーター半径150 mm 2θ走査範囲：-3°～+145° 2θ測定範囲：＋２°～+145° θ/2θ軸最小ステップ角度：0.005°(2θ) 早送り速度：500°/min(2θ) 走査速度：0.01-100°/分 データム角度：2θ=10° スリット DS 1.25、0.625 IHS 10 mm SS 1.25° RS 0.3 mm 入射ソーラースリット　soller(inc)2.5° 受光ソーラースリット　soller(rec)2.5°

This is a powder X-ray diffraction instruments. Equipped with a semiconductor detector, measurement is possible in a short time.

Software: PDXL2 X-ray source: Cu Detector: D/tex Ultra Power: 600 W Goniometer radius: 150 mm 2θ scanning range: -3°～ +145° 2θ measurement range: +2°～+145° θ/2θ minimum step angle: 0.005°(2θ) Fast forward speed: 500°/min(2θ) Scanning speed: 0.01-100°/min Datum angle: 2θ=10°

Slit Ds: 1.25 0.625 IHS: 10 mm SS: 1.25° RS: 0.3mm Incident soller slit: 2.5° Receiving soller slit: 2.5°

※本装置利用による成果物（論文等）を出される場合は、下記の謝辞記載例を参考に謝辞記載をお願いします。

When the data obtained by this instrument to submit to an official publications (e.g. journal etc.) , please write an acknowledgement it refer to following examples.