275 - 高輝度単結晶X線回折装置(湾曲IP)

リガク RAPID 191R/FR-E Cu線源

  • 予約状況

    予約できません。 × 空きなし。 
    空きがあります。  ほぼ空いています。 

    画像

    設置場所

    住所: 〒560-0043 大阪府豊中市待兼山町1-1
    建屋・棟: 理学研究科 C棟
    フロア: 1F C117
  • 利用料金

    依頼分析
    17,380 円(1時間あたり)

    詳細

    概要・性能: X線源 Cu
    湾曲IP(イメージングプレート)検出器を備え、有機低分子の絶対構造決定や
    格子定数の大きな結晶に適しています。
    X線発生装置等:Rigaku FR-E ++Super Bright(45kV 55mA 2.475kW)
       回転対陰極

    X線源はMo(Mo,Cuで二つの波長を切り替えて使用できる)が用いられています。カメラ長が191mmと長いため格子定数の大きな結晶にも適しています。検出器は湾曲IP。高輝度のため極微小結晶の測定にも適しています。
    最大定格出力:2.4kW (45kV – 55mA)
    ・イメージングプレート(湾曲IP)
    ・1/4χゴニオ
    ・吹き付け低温装置:-180 – R.T ˚C

    イメージングプレート型検出器等:
     湾曲IP検出面積(750 mm×382 mm) カメラ長(191 mm)測定範囲(165°)
     ダイナミックレンジ(1~1,000,000)AU(アナログデジタルユニット/画素)
     ゴニオメータ部等:1/4χゴニオ
     吹付け低温装置(-170°C~R.T)

    X-ray source Mo
    Equipped with a curved IP (imaging plate) detector, suitable for determining the absolute structure of small organic molecules and crystals with large lattice constants.
    X-ray generator etc .: Rigaku FR-E ++ Super Bright (45kV 55mA 2.475kW)
    Rotating anti-cathode
    The X-ray source uses Mo (Mo and Cu can be switched between two wavelengths). Since the camera length is 191mm, it is suitable for crystals with a large lattice constant. Detector is curved IP. High brightness makes it suitable for measuring very small crystals.
    Maximum rated output: 2.4kW (45kV – 55mA)
    ・ Imaging plate (curved IP)
    ・ 1 / 4χ gonio
    ・ Blowing cryogenic instrument: -180 – R.T ˚C
    Imaging plate detector, etc .:
    Curved IP detection area (750 mm x 382 mm) Camera length (191 mm) Measurement range (165 °)
    Dynamic range (1 to 1,000,000) AU (analog digital unit / pixel)
    Goniometer etc .: 1 / 4χ goniometer
    Spraying cryogenic instrument (-170 ° C ~ R.T)



    ※本装置利用による成果物(論文等)を出される場合は、下記の謝辞記載例を参考に謝辞記載をお願いします。

    When the data obtained by this instrument to submit to an official publications (e.g. journal etc.) , please write an acknowledgement it refer to following examples.
    資料: 謝辞記載例.pdf
    注意事項: 自動測定の間は10時-17時以外の時間も利用可能。
    利用希望者は、必ず担当者と事前に打ち合わせを行うこと。
    試料や測定条件によっては、利用に応じられない場合がありますのでご了承ください。

    Other than 10: 00-17: 00 can be used during automatic measurement.
    Those who wish to use the service must make a meeting with the person in charge in advance.
    Please note that depending on the sample and measurement conditions, it may not be accepted.

    ・Automatic measurement is available on dates other than the above.
    ・User must contact staff in advance.
    ・Usage depends on the sample and measurement conditions.
    ・Users in the Science Department should contact the instrument staff directly.

    基本情報

    機器番号: 275
    機器状態: 利用可能
    カテゴリー: 05.X線回析(XRD)
    機器担当者: 川村 和司、平山 里実、飯島 憲一
    機器部局: 理学研究科

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