研究設備・機器共通予約システム

cu-009 - セクター型質量分析計(EI、CI、FAB)

日本電子　JMS-700(s)

依頼分析

5,200 円（1時間あたり）

参照 URL：	大阪市立大学　研究基盤共用センター　お問い合わせページ
仕様：	セクタータンデム型の質量分析計イオン源：　FAB,　EI, CI
注意事項：	基本は分子量1000までとする。高分解能測定の依頼は、低分解能測定にて分子イオンピークを確認できるデータを必要とする。