382 - 走査電子顕微鏡 (EDS、高真空/低真空モード搭載)

日本電子　JEOL JSM-6010LA

  • 予約状況

    ■ 予約できません。 × 空きなし。 
    △ 空きがあります。  ○ ほぼ空いています。 

    画像

    設置場所

    住所： 〒560-0043 大阪府豊中市待兼山町1-1
    建屋・棟： 理学研究科　F棟
    フロア： 4F　417

  • 利用料金

    自主分析
    自主分析時間数：利用実績から決定する
    4,510 円（1時間あたり）
    依頼分析
    6,710 円（1時間あたり）
    試料調製費  5,500 円 （1試料あたり）

    詳細

    概要・性能：
    電子線を試料に照射し、反射電子像、二次電子像、特性X線像(元素マッピング)を取得できる装置です。
    原理的には炭素よりも原子番号が大きい元素が検出できますが、定量的な分析が行えるのはNaよりも重い元素となります。
    一般に、チャージアップを防ぐために試料の表面を炭素等で蒸着する必要がありますが、炭素蒸着を嫌う試料については低真空モードで反射電子像取得、および特性X線定性分析も実施可能です。
    注意事項： 予約システムのカレンダーには研究室内利用予約が反映されておりません。

    利用希望者は、最新の装置予約状況およびご希望の分析が実施可能かどうか「問い合わせ」より確認の上、ご予約ください。

    基本情報

    機器番号： 382
    機器状態： 利用可能
    カテゴリー： 07.電子顕微鏡、07.電子顕微鏡／SEM
    機器担当者： 寺田　健太郎、福田　航平
    機器部局： 理学研究科

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