382 - 走査電子顕微鏡 (EDS、高真空/低真空モード搭載)

日本電子　JEOL JSM-6010LA

  • 予約状況

    ■ 予約できません。 × 空きなし。 
    △ 空きがあります。  ○ ほぼ空いています。 

    画像

    設置場所

    住所： 〒560-0043 大阪府豊中市待兼山町1-1
    建屋・棟： 理学研究科　F棟
    フロア： 4F　417

  • 利用料金

    自主分析
    自主分析時間数：利用実績から決定する
    4,510 円（1時間あたり）
    依頼分析
    6,710 円（1時間あたり）
    試料調製費  5,500 円 （1試料あたり）

    詳細

    概要・性能：
    電子線を試料に照射し、反射電子像、二次電子像、特性X線像(元素マッピング)を取得できる装置。
    原理的には炭素よりも原子番号が大きい元素が検出できるが、定量的な分析が行えるのはNaよりも重い元素。
    一般に試料の表面は、チャージアップを防ぐために炭素などで蒸着する必要があるが、炭素蒸着を嫌う試料については低真空モードで定性分析を行うことも可能である。
    注意事項：

    基本情報

    機器番号： 382
    機器状態： 利用可能
    カテゴリー： 07.電子顕微鏡、07.電子顕微鏡／SEM
    機器担当者： 寺田　健太郎、福田　航平
    機器部局： 理学研究科

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