387 - X線光電子分光分析装置

アルバック・ファイ　ESCA 3057特型装置

  • 予約状況

    ■ 予約できません。 × 空きなし。 
    △ 空きがあります。  ○ ほぼ空いています。 

    画像

    設置場所

    建屋・棟： 理学部本館E棟
    フロア： 1F　E104

  • 利用料金

    自主分析
    自主分析時間数：予約時間から決定する
    11,000 円（1時間あたり）
    測定実習指導料（最大4名まで）  11,000 円 （1回あたり）
    依頼分析
    13,750 円（1時間あたり）
    試料調整費  11,000 円 （1試料あたり）

    詳細

    概要・性能：
    無機固体や高分子などのサンプル表面にX線を照射し、生じる光電子のエネルギーを測定することで、サンプルの構成元素とその電子状態を分析することが可能。UPS装備。モノクロ光での測定が可能。
    "X線源：デュアルアノード Al/Mg、モノクロ Al
    UPS線源：He I
    Arイオンエッチング
    ニュートライザー
    注意事項： 初回利用時に講習を受けること 本装置で初めて測定するサンプルについては機器担当者と事前に打ち合せを行い、必要な処理を行なうこと。


    R6年4月1日～9月30日までの測定については、予約前に事前相談をお願いします。

    基本情報

    機器番号： 387
    機器状態： 利用可能
    カテゴリー： 09.表面分析、09.表面分析／XPS
    機器担当者： 伊藤　彰厚、稲角　直也、平山　里実、片野　公也、三坂　朝基
    機器部局： 理学研究科

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