OMU-028 - X線回折装置（XRD）

リガク　SmartLab

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    設置場所

    住所： 大阪府堺市中区学園町 1番1号
    建屋・棟： 大阪公立大学　中百舌鳥キャンパス　研究基盤共用センター
    フロア： C10棟215室　

  • 利用料金

    自主分析
    利用料金  5,600 円 （1時間あたり）
    依頼分析
    粉末回折、薄膜2θスキャン、ロッキングカーブ、X線反射率測定  8,500 円 （1時間あたり）
    薄膜インプレーン、逆格子マッピング、極点測定  12,700 円 （1時間あたり）

    詳細

    参照 URL： 大阪公立大学研究基盤共用センター機器紹介
    概要・性能：
    1次元Ｘ線検出器（D/teX Ultra 250）により高速測定が可能です。
    粉体試料のθ-2θX線回折のほか、光学パーツを組み替えることでロッキングカーブ、逆格子マップ、極点、
    インプレーン回折、反射率など多様な薄膜試料測定や、粉体試料などに対する小角散乱測定に対応します。

    また、測定データの解析には、PDXL2、NANO-Solver、3D Explore、GlobalFitがインストールされています。
    ※ X線回折装置解析PCにも、ソフトウェアが導入されていますので、解析に時間がかかる場合にご利用ください。
    仕様：
    仕様
    使用X線管球　　　　　　　　　　　銅（回転対陰極式）
    最大定格出力　　　　　　　　  45 kV、200 mA （9 kW）
    最小ステップ　　　　　　　　　0.0001 °
    ゴニオメーター半径　　　　　　300 mm
    光学系　　　　　　　　　　　  CBO光学系切り替えユニット （集中法、平行ビーム法）
    ステージ　　　　　　　　　　   標準粉末用高さ基準試料板、透過小角用試料板、4 インチウェハー用試料板
    検出器　　　　　　　　　　　  シンチレーションカウンタ、1次元半導体検出器 （D/teX Ultra 250）
    その他　　　　　　　　　　　   Cu用カウンタモノクロメータユニット （シンチレーションカウンタ用）
    　　　　　　　　　　　　　　   Cu-Kβ用フィルター
    注意事項：
    分析内容について、あらかじめ問い合わせ先までご連絡ください。事前相談を行います。
    分析内容、試料の性質、目的によっては対応しかねる場合もあります。

    機器利用の事前相談のほか、本学共用機器に関するご質問等はこのページのお問い合わせボタン、または大阪公立大学研究基盤共用センターのお問い合わせフォームからお問い合わせください。

    大阪公立大学研究基盤共用センターお問い合わせページ　https://www.omu.ac.jp/escari/contact/index.html

    基本情報

    機器番号： OMU-028
    機器状態： 利用可能
    カテゴリー： 05.X線回析(XRD)
    機器担当者： 研究基盤共用 センター機器担当者
    機器部局： 大阪公立大学

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